Opublikowane: 2013-02-01

Przewidywanie głębokości kolein gruntów stabilizowanych na podstawie badań obciążeń cyklicznych w aparacie CBR

Wojciech Sas , Andrzej Głuchowski

Abstrakt

Mechanizm powstawania kolein jest złożony i nadal do końca nie wyjaśniony. Aby go zrozumieć i właściwie przewidzieć wielkość kolein zostały opracowane odpowiednie metody badawcze, m.in. “Accelerate Pavement Testing” (APT). W celu właściwego przewidywania głębokości kolein powstają również złożone modele matematyczne. Ponadto należy mieć na uwadze, że na głębokość kolein również ma wpływ stan gruntu. W artykule zaprezentowano wyniki badań CBR w warunkach cyklicznego obciążenia (cCBR) przeprowadzone na naturalnej i stabilizowanej chemicznie glinie piaszczystej z 8% dodatkiem wapna hydratyzowanego. Grunt naturalny oraz po stabilizacji został zagęszczony w cylindrze CBR zgodnie z metodą Proctora. Materiał został poddany badaniu cCBR przed stabilizacją, po 1 godzinie, 14 i 30 dniach od stabilizacji. Celem badania cCBR było wyznaczenie na jego podstawie parametrów służących do obliczenia głębokości kolein za pomocą modelu Plastic Displacement (P-D). Zaproponowano również modyfikacje parametru modelu w celu otrzymania dokładniejszych wyników. Dodatkowo przeprowadzono analizę statystyczną korelacji pomiędzy wynikami badania oraz wynikami otrzymanymi za pomocą modelu P-D.

Słowa kluczowe:

cCBR, cykliczny moduł sprężystości, cykliczne obciążenie, grunty stabilizowane, koleinowanie, odkształcenia plastyczne

Podobne artykuły

<< < 7 8 9 10 11 12 13 > >> 

Możesz również Rozpocznij zaawansowane wyszukiwanie podobieństw dla tego artykułu.

Pobierz pliki

PDF

Zasady cytowania

Sas, W., & Głuchowski, A. (2013). Przewidywanie głębokości kolein gruntów stabilizowanych na podstawie badań obciążeń cyklicznych w aparacie CBR. Roads and Bridges - Drogi I Mosty, 12(4), 411–423. https://doi.org/10.7409/rabdim.013.026

Cited by / Share


Ta strona używa pliki cookie dla prawidłowego działania, aby korzystać w pełni z portalu należy zaakceptować pliki cookie.